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A new Atomic Force Microscope near electron counting

  • 公開時間: 2018-12-14   サイズ: 557 Kb   フォーマット: PDF   ダウンロード: 31
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はじめに

A team of researchers have created a new Atomic Force Microscope with the help of Analog Devices electronics. 

In particular, they measure the tiny currents produced by the piezoelectric effect with a transimpedance amplifier, which consists into a current-to-voltage converter. The work entitles “Piezo-generated charge mapping revealed through direct

piezoelectric force microscopy” published in the prestigious scientific journal Nature Communications.

 

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